镀层测厚仪是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光测厚仪经验,门研发的一款下照式结构的镀层 测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行精准检测。
天瑞镀层检测仪A主要用于检测金属电镀层厚度(如镀金、镀银、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯……);在企业品质检测、来料管控方面,得到广泛的应用。
Thick600实惠型镀层测厚仪X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。
镀金镍测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的款新型仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
X射线镀层厚度分析仪是款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美进口,软件算法采用美EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有三方检测机构报告。