Thick800型X荧光膜厚测量仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。

X-ray膜厚仪是天瑞仪器结合20多年的X荧光研发经验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，研制出具有自主知识产权的，性价比优的金属电镀层厚度检测仪。

X射线镀层测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的款仪器，可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款功能*的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

x射线镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能*的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。