Thick800型X荧光膜厚测量仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。

Thick800型X荧光膜厚测量仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。

Thick800型X荧光膜厚测量仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的特殊应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。

它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。

天瑞仪器公司集中了内的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员，依靠科学研究，总结多年的现场应用实践经验，结合中的特色，开发生产出的Thick800 型X荧光镀层测厚仪具有快速、、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。

仪器特点：

1．   仪器外观选用流线型设计，时尚雅致。

2．   同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。

3．   可以分析多5层镀层，次可分析元素多达24种。

4．   无需复杂的样品预处理过程，无损测试。

5．   检出限可达到2ppm。

6．   分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm 。

7．   采用美原装、际的探测器，能量分辨率高。

8．   采用美原装、际的AMP，处理速度快，精度高，稳定。

9．   X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。

10． 采用彩色摄像头，观察拍摄样品。

计算机分析系统

联想计算机；高分辨率彩色液晶显示器。

惠普打印机。

系统软件

  际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、

理论α系数法等多种经典分析方法，面：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的性。

电源 

   AC 220V～240V、50Hz 。

   额定功率：350W。选配高精度参数稳压电源。

仪器尺寸、重量

  样品腔尺寸：498*360*158 mm（W*D*H）

  主机外形尺寸：580*500*580 mm （W*D*H）

  主机重量：约50KG。

应用:

塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。