天瑞公司有完善的质量管理体系，从进口核心零部件的检测开始，到仪器的组装，数据的标定及考核，均严格把关，能够很好的控制产品的质量。公司严格按ISO9001质量体系的要求，进行产品质量的管理，每道工序进行严格的检验，绝不允许不合格的流到下到工序；不合格的产品不出厂，坚决做到“三不"和“三不放过"，确保产品质量，用户使用放心。Thick800A是天瑞仪器销量好的镀层测厚仪；仪器采用上照式结构，测试，软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务及时。
镀层厚度测试方法般有以下几种方法：
1.光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005
2.X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005
3.库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
X光电镀层测厚仪应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于电镀行业。
X光电镀层测厚仪硬件配置
1. 探测器
2. 高、低压电源
3. MCA多道分析器
4. X光管
5. 高精密摄像头
6. 开放式样品腔
7. 双激光定位装置
8. 铅玻璃屏蔽罩
9. 精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动
10. 信号检测电子电路
11. 高度传感器
12. 保护传感器
13. 计算机及喷墨打印机
仪器软件优势:
仪器采用天瑞软件研发团队研发的能量色散X荧光FpThick软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、键智能化操作。谱图区域采用动态模式，测试时元素观察更直观。
软件具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
技术参数
1.x射线电镀层测厚仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；
2.软件可分析高5层25种元素镀层；
3.通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；
4.配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的分析；
5.内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
6.高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
7.外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
8.样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
9.样品台尺寸：230(W)×210(D)mm
10.移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm
11.Z轴升降平台升降范围：0-140mm
产品特点
1.小准直器：0.1，可以进行小样品测试（小点）的测试，从而提高测试的率和度。
2.高度激光：自动定位高度，可满足不规则表面样品的测试
3.高分辨率探头：提高分析的性。
测试实例
镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图。
结论
实验表明，使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试，结果度高，速度快（几十秒），其测试效果完可以和显微镜测试法媲美。
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