微聚焦多导毛细管镀层厚度测厚仪采用多导毛细管光学系统,可以实现在ji微小样品测试中获得geng gao的激发qiang度,同等光斑面积下,荧光qiang度是传统X镀层仪器千倍以上;geng gao 计数率bao zheng 了仪器的准确性和wen ding 性。内外双激光,搭载quan zi dong gao jing度样品移动平台,开盖自动弹出功能,让测试geng省心。双摄广角视频系统,配备高分辨率的摄像 头,图像geng清晰,微小样品jing 确ding位、准确分析。
微聚焦多导毛细管镀层厚度测厚仪镀层测试方法
X 射线荧光镀层厚度测量是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出的2次X 射线(X射线荧光)的 qiang度来测量镀层厚度的方法。通过X 射线荧光qiang度测量镀膜厚度的方法有检量线法和基本参数法(FP 法)。
能量色散型X射线荧光镀层测厚仪可在不损坏样品的情况下进行非接触式测量。而且测量时间较短, 仅为3-20s。
多导毛细聚焦镀层检测技术
1、结合镀层行业微小样品的检测需求,研发适用于镀层检测的chao近光路系统,减少能量过程损耗。 搭载多导毛细管聚焦管,ji大的提升了仪器的检测性能,聚焦qiang度提升1000~10000倍,geng gao 的检测灵敏度和分析jing du 以及gao 计数率bao zheng 测试结果的准确性和wen ding 性。
2、全景+微区双相机设计,呈现全高清广角视野,让样品观察geng quan mian ;微米级别分辨率,较好的man zu chao微产品的测试,让测试geng guang fan geng 便捷。
3、优质的多导毛细管技术,信号qiang度比金属准直系统高出几个数量级。
4、多规格可选的多导毛细管,较好的man zu 用户不同测试需求。
5、gao jing 度XYZ 轴移动测试平台,结合双激光点位定位系统,可实现在样品测试过程中的quan zi动化感受, 一键点击,测试geng省心。
微聚焦多导毛细管 镀层厚度测厚仪产品应用行业:
· 测量chao微小部件和结构,如:印制线路板、连接器或引线框架等;
· 分析chao薄镀层,如:厚度薄至2nm 的Au 镀层和≤30nm 的Pd 镀层;
· 测量电子和半导体行业中的功能性镀层;
· 分析复杂的多镀层系统;
·quan zi动测量,如:用于质量kong zhi ling yu ;
· 符合ENIG/ENEPIG要求,符合DIN ISO 3497,ASTM B568,IPC4552和IPC4556 标准。