EDXThick800是全新升级的上照式全自动微区X荧光膜厚测试仪，功能全面、性能强劲，兼具多元化检测能力与自动化测试优势。设备不仅适配微小样品、异形复杂样品的高精度镀层膜厚检测，还可实现材料有害元素筛查及轻元素成分精准分析，一机多用、适配场景广泛。整机搭载全自动X/Y/Z三轴三维运动控制系统、双激光精准定位及智能防护系统，支持多点位编程自动化测试，可高效完成批量、多工位检测作业，应用于各行业

电镀层厚度测量仪专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能*的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

电镀层厚度测量仪专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能*的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

EDX600PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行精准检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

EDX600PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行精准检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

EDX-T30是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款全新上照式X射线荧光分析仪,该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦精准分析。能更好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。