表面无损厚度测厚仪符合ENIG/ENEPIG要求，符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556标准。

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更新时间：2024-07-21

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2、表面无损厚度测厚仪全景+微区双相机设计，呈现全高清广角视野，让样品观察geng quan mian ；微米别分辨率，较好的man zu chao微产品的测试，让测试geng guang fan geng 便捷。

3、优质的多导毛细管技术，信号qiang度比金属准直系统高出几个数量。
4、多规格可选的多导毛细管，较好的man zu 用户不同测试需求。

· 表面无损厚度测厚仪测量电子和半导体行业中的功能性镀层；
· 分析复杂的多镀层系统；

· 符合ENIG/ENEPIG要求，符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556标准。

表面无损厚度测厚仪

优势：

1、满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

2、0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

3、高精度移动平台可jingzhun定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

4、采用高度定位激光，可自动定位测试高度

5、定位激光jingzhun定位光斑，确保测试点与光斑对齐

6、鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

7、高分辨率探头使分析结果加

8、良好的射线屏蔽作用

9、测试口高度敏感性传感器保护

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