上照式X荧光无损测厚仪是天瑞仪器销量好的镀层测厚仪；仪器采用上照式结构，测试，软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务及时。
镀层厚度测试方法般有以下几种方法：
1.光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005
2.X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005
3.库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
上照式X荧光无损测厚仪测量标准
1.标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
应用行业
1.电子半导体行业接插件和触点的厚度测量
2.印刷线路板行业功能镀层厚度测量
3.贵金属首饰手表行业镀层厚度测量
4.五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量
仪器分析原理
仪器采用XRF光谱分析技术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。
仪器配置
1 硬件：主机壹台，含下列主要部件：
①X光管
②半导体探测器
③放大电路
④高精度样品移动平台
⑤高清晰摄像头
⑥高压系统
⑦上照、开放式样品腔
⑧双激光定位
⑨玻璃屏蔽罩
2 软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3 计算机、打印机各台
计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。
5 标准附件
准直孔：0.1X1.0mm（已内置于仪器中）
仪器软件优势:
仪器采用天瑞软件研发团队研发的能量色散X荧光FpThick软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、键智能化操作。谱图区域采用动态模式，测试时元素观察更直观。
软件具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
仪器参数规格
1 分析元素范围：S-U
2 同时可分析多达5层以上镀层
3 分析厚度检出限高达0.005μm
4 多次测量重复性高可达0.01μm
5 定位精度：0.1mm
6 测量时间：30s-300s
7 计数率：1300-8000cps
8 Z轴升降范围：0-140mm
9 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
性能特点
1.满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
2.φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，可以对同镀件不同部位测试厚度
3.高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
4.采用高度定位激光，可自动定位测试高度
5.定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
6.鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
7.高分辨率探头使分析结果更加
8.良好的射线屏蔽作用
9.测试口高度敏感性传感器保护
样品测试流程：
测试实例
镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图。
结论
实验表明，使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试，结果度高，速度快（几十秒），其测试效果完可以和显微镜测试法媲美。
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