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X射线荧光镀层测厚仪THICK800A
产品简介

X射线荧光镀层测厚仪THICK800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的款金属镀层测试仪器,配备移动平台,可自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加。

产品型号:
更新时间:2024-07-07
厂商性质:生产厂家
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X射线荧光镀层测厚仪THICK800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的款金属镀层测试仪器,配备移动平台,可自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加。重量:90 kg

X射线荧光镀层测厚仪THICK800A技术指标

 

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层

次可同时分析多达五层镀层

薄可测试0.005μm

分析含量般为2ppm到99.9%

镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

工作稳定性高

度适应范围为15℃至30℃

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm

测试实例

 

镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。

以下使用Thick800AX射线荧光镀层测厚仪对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试,其测试位置如图。

X射线荧光镀层测厚仪THICK800A

铜镀镍件X射线荧光镀层测厚仪测试谱图

 

样 品 名

成分Ni(%)

镀层Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

100

18.846

吊扣4#

100

19.302

吊扣5#

100

18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

标准偏差

0

0.273409

相对标准偏差

0

1.425257

 

铜镀镍件测试值

 

结论

 

实验表明,使用Thick800A X射线荧光镀层测厚仪对镀件膜厚测试,结果度高,速度快(几十秒),其测试效果完可以和显微镜测试法媲美。

X射线荧光镀层测厚仪的简单介绍

Thick800AX射线荧光镀层测厚仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的款金属镀层测试仪器,配备移动平台,可自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加。重量:90 kg 


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