X射线荧光光谱镀层分析仪（X-Ray）适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分，是一款性价比*的产品，得到了广泛应用和认可。

电镀层厚度测量仪专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能*的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

X荧光镀层测厚仪天瑞仪器 EDX600Pro， 是一款下照式结构的 X 荧光镀层测厚仪，测量便捷：无需液氮，无需样品前处理，方便快捷。检测精准：能对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行精准检测，助力企业准确核算成本与质量管控。应用广泛：可广泛应用于光伏、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车、通讯等行业。

EDX6000C-X射线荧光光谱仪-江苏天瑞仪器股份有限公司该产品可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究,从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化工元素分析、医药食品管控、地质矿元素分析、水泥、耐火材料、玻璃等多个行业的元素分析领域。

镀金厚度猜不准？EDXTHICK800 精准到 0.005μm，真假厚薄一眼看清！ 不损伤首饰、微区精准定位，K 金 / 镀金 / 镀银一键测厚 + 测成分！ 珠宝生意要长久，品质检测不能少，EDXTHICK800 帮你锁住回头客！ 客户要证书？EDXTHICK800 秒出数据，专业度直接拉满！

EDXThick800是一款全新上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。